EPU verstehen, umsetzen und erfolgreich anwenden!
Lesen, wie es geht:
- grundlegende Stimulationstechniken verstehen
- physiologische und pathophysiologische Mechanismen in Reizbildung und Reizleitung erkennen
- der Weg zur richtigen Ablationsstelle
Alles Wichtige auf einen Blick:
- alle Themen werden anschaulich, didaktisch und gut illustriert dargestellt
- aufbauende Module führen zum tiefgreifenden Verständnis für die Zusammenhänge
- selbstständiges systematisches "elektrophysiologisches Denken" entwickeln
Aus der Praxis:
- für die Praxis Sicherheit in der Analyse elektrophysiologischer Fragen
- sinnvolles Handeln für die Lösung der elektrophysiologischen Probleme
- Orientierung für die EPU-Routine
Aktualisiert: 2023-06-14
> findR *
Zum Werk
Der Kommentar knüpft an die Tradition des "Benkard" zum PatG an und erläutert und vertieft die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern des EPA und dessen Prüfungspraxis. Während sich das Parallelwerk zum PatG vornehmlich an der Rechtsprechung des X. Senats des BGH orientiert, legt der vorliegende Kommentar die Amtspraxis der Prüfungs- und Einspruchsabteilungen dar und erklärt die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern.
Vorteile auf einen BlickErläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktikergründliche Darstellung nach deutschem KommentarstandardMitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften
Zur Neuauflage
Die Neuauflage berücksichtigt neben einer Vielzahl aktueller Entscheidungen insbesondere die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt sowie Fragen zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).
Zielgruppe
Für Rechtsanwaltschaft, Patentanwaltschaft und Patentanwaltskandidatinnen und Patentanwaltskanditen, patentamtliche Prüferinnen und Prüfer, Richterschaft, Erfinderinnen und Erfinder, Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen.
Aktualisiert: 2023-05-26
Autor:
Thomas Adam,
Anna Bacchin,
Ingo Beckedorf,
Lars Birken,
Jochen Ehlers,
Rainer Fritsche,
Klaus Grabinski,
Volkmar Henke,
Tobias H. Irmscher,
Christof Keussen,
Britta Kley,
Matthias Koch,
Magdalena Kolasa,
Gert Kolle,
Christian Osterrieth,
Tilman Quarch,
Roberto Romandini,
Uwe Scharen,
Heiko Sendrowski,
Manuel Söldenwagner,
Doris Thums,
Jochen Unland
Zum Werk
Der Kommentar knüpft an die Tradition des "Benkard" zum PatG an und erläutert und vertieft die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern des EPA und dessen Prüfungspraxis. Während sich das Parallelwerk zum PatG vornehmlich an der Rechtsprechung des X. Senats des BGH orientiert, legt der vorliegende Kommentar die Amtspraxis der Prüfungs- und Einspruchsabteilungen dar und erklärt die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern.
Vorteile auf einen BlickErläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktikergründliche Darstellung nach deutschem KommentarstandardMitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften
Zur Neuauflage
Die Neuauflage berücksichtigt neben einer Vielzahl aktueller Entscheidungen insbesondere die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt sowie Fragen zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).
Zielgruppe
Für Rechtsanwaltschaft, Patentanwaltschaft und Patentanwaltskandidatinnen und Patentanwaltskanditen, patentamtliche Prüferinnen und Prüfer, Richterschaft, Erfinderinnen und Erfinder, Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen.
Aktualisiert: 2023-05-25
Autor:
Thomas Adam,
Anna Bacchin,
Ingo Beckedorf,
Lars Birken,
Jochen Ehlers,
Rainer Fritsche,
Klaus Grabinski,
Volkmar Henke,
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Magdalena Kolasa,
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Roberto Romandini,
Uwe Scharen,
Heiko Sendrowski,
Manuel Söldenwagner,
Doris Thums,
Jochen Unland
Vorteile auf einen BlickErläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktikergründliche Darstellung nach deutschem KommentarstandardMitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften
Zu den Neuauflagen
Die Neuauflagen berücksichtigen die aktuellen Entwicklungen in Rechtsprechung und Gesetzgebung und werden sowohl in wissenschaftlicher Hinsicht als auch in ihrem Praxisbezug höchsten Ansprüchen gerecht.
Behandelt werden etwa Fragen zur Lizenzierung standardessenzieller Patente (SEP) sowie zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).
Ebenfalls enthalten sind die Änderungen aufgrund des Zweiten Gesetzes zur Vereinfachung und Modernisierung des Patentrechts, wie insbesondere die Neuregelung des patentrechtlichen Unterlassungsanspruchs. Zudem werden die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt berücksichtigt.
Zielgruppe
Für Rechts- und Patentanwaltschaft, Unternehmen, Gerichte, Studium, Referendariat und sonstige Auszubildende in Rechts- und Patentanwaltskanzleien sowie in Behörden.
Aktualisiert: 2023-05-25
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Zum Werk
Der Kommentar knüpft an die Tradition des "Benkard" zum PatG an und erläutert und vertieft die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern des EPA und dessen Prüfungspraxis. Während sich das Parallelwerk zum PatG vornehmlich an der Rechtsprechung des X. Senats des BGH orientiert, legt der vorliegende Kommentar die Amtspraxis der Prüfungs- und Einspruchsabteilungen dar und erklärt die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern.
Vorteile auf einen BlickErläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktikergründliche Darstellung nach deutschem KommentarstandardMitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften
Zur Neuauflage
Die Neuauflage berücksichtigt neben einer Vielzahl aktueller Entscheidungen insbesondere die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt sowie Fragen zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).
Zielgruppe
Für Rechtsanwaltschaft, Patentanwaltschaft und Patentanwaltskandidatinnen und Patentanwaltskanditen, patentamtliche Prüferinnen und Prüfer, Richterschaft, Erfinderinnen und Erfinder, Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen.
Aktualisiert: 2023-05-24
Autor:
Thomas Adam,
Anna Bacchin,
Ingo Beckedorf,
Lars Birken,
Jochen Ehlers,
Rainer Fritsche,
Klaus Grabinski,
Volkmar Henke,
Tobias H. Irmscher,
Christof Keussen,
Britta Kley,
Matthias Koch,
Magdalena Kolasa,
Gert Kolle,
Christian Osterrieth,
Tilman Quarch,
Roberto Romandini,
Uwe Scharen,
Heiko Sendrowski,
Manuel Söldenwagner,
Doris Thums,
Jochen Unland
Zum Werk
Der Kommentar knüpft an die Tradition des "Benkard" zum PatG an und erläutert und vertieft die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern des EPA und dessen Prüfungspraxis. Während sich das Parallelwerk zum PatG vornehmlich an der Rechtsprechung des X. Senats des BGH orientiert, legt der vorliegende Kommentar die Amtspraxis der Prüfungs- und Einspruchsabteilungen dar und erklärt die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern.
Vorteile auf einen BlickErläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktikergründliche Darstellung nach deutschem KommentarstandardMitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften
Zur Neuauflage
Die Neuauflage berücksichtigt neben einer Vielzahl aktueller Entscheidungen insbesondere die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt sowie Fragen zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).
Zielgruppe
Für Rechtsanwaltschaft, Patentanwaltschaft und Patentanwaltskandidatinnen und Patentanwaltskanditen, patentamtliche Prüferinnen und Prüfer, Richterschaft, Erfinderinnen und Erfinder, Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen.
Aktualisiert: 2023-05-24
Autor:
Thomas Adam,
Anna Bacchin,
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Lars Birken,
Jochen Ehlers,
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Christian Osterrieth,
Tilman Quarch,
Roberto Romandini,
Uwe Scharen,
Heiko Sendrowski,
Manuel Söldenwagner,
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Der Kommentar knüpft an die Tradition des "Benkard" zum PatG an und erläutert und vertieft die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern des EPA und dessen Prüfungspraxis. Während sich das Parallelwerk zum PatG vornehmlich an der Rechtsprechung des X. Senats des BGH orientiert, legt der vorliegende Kommentar die Amtspraxis der Prüfungs- und Einspruchsabteilungen dar und erklärt die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern.
Vorteile auf einen BlickErläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktikergründliche Darstellung nach deutschem KommentarstandardMitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften
Zur Neuauflage
Die Neuauflage berücksichtigt neben einer Vielzahl aktueller Entscheidungen insbesondere die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt sowie Fragen zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).
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Für Rechtsanwaltschaft, Patentanwaltschaft und Patentanwaltskandidatinnen und Patentanwaltskanditen, patentamtliche Prüferinnen und Prüfer, Richterschaft, Erfinderinnen und Erfinder, Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen.
Aktualisiert: 2023-05-22
Autor:
Thomas Adam,
Anna Bacchin,
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Jochen Ehlers,
Rainer Fritsche,
Klaus Grabinski,
Volkmar Henke,
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Manuel Söldenwagner,
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Vorteile auf einen BlickErläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktikergründliche Darstellung nach deutschem KommentarstandardMitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften
Zu den Neuauflagen
Die Neuauflagen berücksichtigen die aktuellen Entwicklungen in Rechtsprechung und Gesetzgebung und werden sowohl in wissenschaftlicher Hinsicht als auch in ihrem Praxisbezug höchsten Ansprüchen gerecht.
Behandelt werden etwa Fragen zur Lizenzierung standardessenzieller Patente (SEP) sowie zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).
Ebenfalls enthalten sind die Änderungen aufgrund des Zweiten Gesetzes zur Vereinfachung und Modernisierung des Patentrechts, wie insbesondere die Neuregelung des patentrechtlichen Unterlassungsanspruchs. Zudem werden die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt berücksichtigt.
Zielgruppe
Für Rechts- und Patentanwaltschaft, Unternehmen, Gerichte, Studium, Referendariat und sonstige Auszubildende in Rechts- und Patentanwaltskanzleien sowie in Behörden.
Aktualisiert: 2023-05-22
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Zum Werk
Der Kommentar knüpft an die Tradition des "Benkard" zum PatG an und erläutert und vertieft die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern des EPA und dessen Prüfungspraxis. Während sich das Parallelwerk zum PatG vornehmlich an der Rechtsprechung des X. Senats des BGH orientiert, legt der vorliegende Kommentar die Amtspraxis der Prüfungs- und Einspruchsabteilungen dar und erklärt die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern.
Vorteile auf einen BlickErläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktikergründliche Darstellung nach deutschem KommentarstandardMitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften
Zur Neuauflage
Die Neuauflage berücksichtigt neben einer Vielzahl aktueller Entscheidungen insbesondere die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt sowie Fragen zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).
Zielgruppe
Für Rechtsanwaltschaft, Patentanwaltschaft und Patentanwaltskandidatinnen und Patentanwaltskanditen, patentamtliche Prüferinnen und Prüfer, Richterschaft, Erfinderinnen und Erfinder, Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen.
Aktualisiert: 2023-05-19
Autor:
Thomas Adam,
Anna Bacchin,
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Jochen Ehlers,
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Klaus Grabinski,
Volkmar Henke,
Tobias H. Irmscher,
Christof Keussen,
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Roberto Romandini,
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Manuel Söldenwagner,
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Der Kommentar knüpft an die Tradition des "Benkard" zum PatG an und erläutert und vertieft die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern des EPA und dessen Prüfungspraxis. Während sich das Parallelwerk zum PatG vornehmlich an der Rechtsprechung des X. Senats des BGH orientiert, legt der vorliegende Kommentar die Amtspraxis der Prüfungs- und Einspruchsabteilungen dar und erklärt die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern.
Vorteile auf einen BlickErläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktikergründliche Darstellung nach deutschem KommentarstandardMitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften
Zur Neuauflage
Die Neuauflage berücksichtigt neben einer Vielzahl aktueller Entscheidungen insbesondere die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt sowie Fragen zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).
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Für Rechtsanwaltschaft, Patentanwaltschaft und Patentanwaltskandidatinnen und Patentanwaltskanditen, patentamtliche Prüferinnen und Prüfer, Richterschaft, Erfinderinnen und Erfinder, Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen.
Aktualisiert: 2023-05-17
Autor:
Thomas Adam,
Anna Bacchin,
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Lars Birken,
Jochen Ehlers,
Rainer Fritsche,
Klaus Grabinski,
Volkmar Henke,
Tobias H. Irmscher,
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Gert Kolle,
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Roberto Romandini,
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Manuel Söldenwagner,
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Der Kommentar knüpft an die Tradition des "Benkard" zum PatG an und erläutert und vertieft die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern des EPA und dessen Prüfungspraxis. Während sich das Parallelwerk zum PatG vornehmlich an der Rechtsprechung des X. Senats des BGH orientiert, legt der vorliegende Kommentar die Amtspraxis der Prüfungs- und Einspruchsabteilungen dar und erklärt die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern.
Vorteile auf einen BlickErläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktikergründliche Darstellung nach deutschem KommentarstandardMitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften
Zur Neuauflage
Die Neuauflage berücksichtigt neben einer Vielzahl aktueller Entscheidungen insbesondere die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt sowie Fragen zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).
Zielgruppe
Für Rechtsanwaltschaft, Patentanwaltschaft und Patentanwaltskandidatinnen und Patentanwaltskanditen, patentamtliche Prüferinnen und Prüfer, Richterschaft, Erfinderinnen und Erfinder, Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen.
Aktualisiert: 2023-05-17
Autor:
Thomas Adam,
Anna Bacchin,
Ingo Beckedorf,
Lars Birken,
Jochen Ehlers,
Rainer Fritsche,
Klaus Grabinski,
Volkmar Henke,
Tobias H. Irmscher,
Christof Keussen,
Britta Kley,
Matthias Koch,
Magdalena Kolasa,
Gert Kolle,
Christian Osterrieth,
Tilman Quarch,
Roberto Romandini,
Uwe Scharen,
Heiko Sendrowski,
Manuel Söldenwagner,
Doris Thums,
Jochen Unland
Vorteile auf einen BlickErläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktikergründliche Darstellung nach deutschem KommentarstandardMitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften
Zu den Neuauflagen
Die Neuauflagen berücksichtigen die aktuellen Entwicklungen in Rechtsprechung und Gesetzgebung und werden sowohl in wissenschaftlicher Hinsicht als auch in ihrem Praxisbezug höchsten Ansprüchen gerecht.
Behandelt werden etwa Fragen zur Lizenzierung standardessenzieller Patente (SEP) sowie zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).
Ebenfalls enthalten sind die Änderungen aufgrund des Zweiten Gesetzes zur Vereinfachung und Modernisierung des Patentrechts, wie insbesondere die Neuregelung des patentrechtlichen Unterlassungsanspruchs. Zudem werden die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt berücksichtigt.
Zielgruppe
Für Rechts- und Patentanwaltschaft, Unternehmen, Gerichte, Studium, Referendariat und sonstige Auszubildende in Rechts- und Patentanwaltskanzleien sowie in Behörden.
Aktualisiert: 2023-05-14
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Zum Werk
Der Kommentar knüpft an die Tradition des "Benkard" zum PatG an und erläutert und vertieft die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern des EPA und dessen Prüfungspraxis. Während sich das Parallelwerk zum PatG vornehmlich an der Rechtsprechung des X. Senats des BGH orientiert, legt der vorliegende Kommentar die Amtspraxis der Prüfungs- und Einspruchsabteilungen dar und erklärt die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern.
Vorteile auf einen BlickErläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktikergründliche Darstellung nach deutschem KommentarstandardMitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften
Zur Neuauflage
Die Neuauflage berücksichtigt neben einer Vielzahl aktueller Entscheidungen insbesondere die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt sowie Fragen zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).
Zielgruppe
Für Rechtsanwaltschaft, Patentanwaltschaft und Patentanwaltskandidatinnen und Patentanwaltskanditen, patentamtliche Prüferinnen und Prüfer, Richterschaft, Erfinderinnen und Erfinder, Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen.
Aktualisiert: 2023-05-12
Autor:
Thomas Adam,
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Lars Birken,
Jochen Ehlers,
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Volkmar Henke,
Tobias H. Irmscher,
Christof Keussen,
Britta Kley,
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Gert Kolle,
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Uwe Scharen,
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Zum Werk
Der Kommentar knüpft an die Tradition des "Benkard" zum PatG an und erläutert und vertieft die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern des EPA und dessen Prüfungspraxis. Während sich das Parallelwerk zum PatG vornehmlich an der Rechtsprechung des X. Senats des BGH orientiert, legt der vorliegende Kommentar die Amtspraxis der Prüfungs- und Einspruchsabteilungen dar und erklärt die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern.
Vorteile auf einen BlickErläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktikergründliche Darstellung nach deutschem KommentarstandardMitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften
Zur Neuauflage
Die Neuauflage berücksichtigt neben einer Vielzahl aktueller Entscheidungen insbesondere die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt sowie Fragen zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).
Zielgruppe
Für Rechtsanwaltschaft, Patentanwaltschaft und Patentanwaltskandidatinnen und Patentanwaltskanditen, patentamtliche Prüferinnen und Prüfer, Richterschaft, Erfinderinnen und Erfinder, Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen.
Aktualisiert: 2023-05-11
Autor:
Thomas Adam,
Anna Bacchin,
Ingo Beckedorf,
Lars Birken,
Jochen Ehlers,
Rainer Fritsche,
Klaus Grabinski,
Volkmar Henke,
Tobias H. Irmscher,
Ulrich Joos,
Christof Keussen,
Britta Kley,
Gert Kolle,
Christian Osterrieth,
Tilman Quarch,
Uwe Scharen,
Heiko Sendrowski,
Manuel Söldenwagner,
Doris Thums,
Jochen Unland,
Manfred Wieser
Das Tabellenbuch bietet eine übersichtliche Darstellung zu den patentrechtlich relevanten Verfahren im Rahmen des EPÜ, EPGÜ (Übereinkommen über ein Einheitliches Patentgericht) und des PCT. Dabei ermöglicht die Tabellenstruktur einen übersichtlichen Zugriff auf die Rechtsnormen, Rechtsprechung, Richtlinien, anwendbaren Fristen, Gebühren und Möglichkeiten zur Mängelbeseitigung als Rechtsketten. Eigenständige Kapitel zu allen relevanten Verfahren (Erteilungs-, Einspruchs-, Beschwerdeverfahren) und zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung erlauben es dem Leser,
schnell auf den gewünschten Vorgang und die sich daraus ergebenden Handlungsmöglichkeiten zugreifen.
Ferner werden in Spezialkapiteln Hilfestellungen zu Fristen, Prioritäten, Änderungsmöglichkeiten, Teilanmeldungen, Vertreterreglungen, mündlichen Verhandlungen, materiellem Recht, zur EQE und zum US-Patentrecht geboten.
Aktualisiert: 2023-05-11
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Das Tabellenbuch bietet eine übersichtliche Darstellung zu den patentrechtlich relevanten Verfahren im Rahmen des EPÜ, EPGÜ (Übereinkommen über ein Einheitliches Patentgericht) und des PCT. Dabei ermöglicht die Tabellenstruktur einen übersichtlichen Zugriff auf die Rechtsnormen, Rechtsprechung, Richtlinien, anwendbaren Fristen, Gebühren und Möglichkeiten zur Mängelbeseitigung als Rechtsketten. Eigenständige Kapitel zu allen relevanten Verfahren (Erteilungs-, Einspruchs-, Beschwerdeverfahren) und zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung erlauben es dem Leser,
schnell auf den gewünschten Vorgang und die sich daraus ergebenden Handlungsmöglichkeiten zugreifen.
Ferner werden in Spezialkapiteln Hilfestellungen zu Fristen, Prioritäten, Änderungsmöglichkeiten, Teilanmeldungen, Vertreterreglungen, mündlichen Verhandlungen, materiellem Recht, zur EQE und zum US-Patentrecht geboten.
Aktualisiert: 2023-05-04
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Das Tabellenbuch bietet eine übersichtliche Darstellung zu den patentrechtlich relevanten Verfahren im Rahmen des EPÜ, EPGÜ (Übereinkommen über ein Einheitliches Patentgericht) und des PCT. Dabei ermöglicht die Tabellenstruktur einen übersichtlichen Zugriff auf die Rechtsnormen, Rechtsprechung, Richtlinien, anwendbaren Fristen, Gebühren und Möglichkeiten zur Mängelbeseitigung als Rechtsketten. Eigenständige Kapitel zu allen relevanten Verfahren (Erteilungs-, Einspruchs-, Beschwerdeverfahren) und zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung erlauben es dem Leser,
schnell auf den gewünschten Vorgang und die sich daraus ergebenden Handlungsmöglichkeiten zugreifen.
Ferner werden in Spezialkapiteln Hilfestellungen zu Fristen, Prioritäten, Änderungsmöglichkeiten, Teilanmeldungen, Vertreterreglungen, mündlichen Verhandlungen, materiellem Recht, zur EQE und zum US-Patentrecht geboten.
Aktualisiert: 2023-05-04
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Die achte Auflage des Werkes „Verfahrenspraxis EPÜ und PCT“ aktualisiert die Vorauflage. Sie ist ein Nachschlagewerk
für Patentanwaltskandidaten und Teilnehmer an der Europäischen Eignungsprüfung sowie auch für Patentanwälte, Patentingenieure und Patentanwaltsfachangestellte in der täglichen Arbeit.
In vier übersichtlichen Kapiteln wird das komplette Themenspektrum des EPÜ und PCT von der Ausarbeitung einer Patentanmeldung, Einreichung, Bescheidserwiderung bis hin zu Einspruch und Beschwerde auf höchstem Niveau derart dargestellt, dass verfahrensbedingte Spezialfälle durch Fußnotenverweise vom allgemeinen Verfahrensablauf separiert aufgeführt sind.
Gleichermaßen erlaubt die Gegenüberstellung des schematisch dargestellten Verfahrensablaufs zu den maßgebenden Rechtsnormen (Artikel und Regel des EPÜ und PCT, Richtlinien, Gebührenordnung, einschlägige Rechtsprechung, u.a.) einen schnellen Rückgriff auf die zugehörige Rechtsquelle.
Die zu den Kapiteln „Ausarbeitung einer Patentanmeldung“, „Prüfbescheidserwiderung“ und „Einspruch“ vorhandenen Textbausteine bestechen durch ihre praxisorientierte Form, die aber auch Gestaltungsalternativen aufzeigen.
NEU in der 8. Auflage:
Aktualisierte Literatur, Rechtsprechung und Gesetzesänderungen
Aktualisiert: 2023-04-27
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Eine technische Erfindung ist nicht nur ein Gedankenblitz, sondern das Ergebnis einer intensiven Entwicklungsarbeit, für die das Recht den Erfinder dann auch mit einem Patent belohnt. Dieses Buch informiert Sie über dieses starke Schutzrecht, seine Voraussetzungen und den Weg von der Idee zum Patent. Außerdem behandelt es das Gebrauchsmuster und zeigt dessen Unterschiede zu seinem „großen Bruder“, dem Patent. Dieses Werk dient der Ausbildung von Fachanwälten an der Hagen Law School. Es ist Teil einer bewährten Reihe, die sich nicht nur an Experten richtet, sondern auch an Leser mit juristischer Vorbildung und besonders praxisorientiertem Interesse. Themen und Texte sind nach den Anforderungen der FAO konzipiert und stammen von erfahrenen Praktikern und Rechtswissenschaftlern. Alle Publikationen der Hagen Law School unterliegen einem Peer-Review-System.
Aktualisiert: 2023-01-05
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Vorteile auf einen BlickErläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktikergründliche Darstellung nach deutschem KommentarstandardMitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften
Zu den Neuauflagen
Die Neuauflagen berücksichtigen die aktuellen Entwicklungen in Rechtsprechung und Gesetzgebung und werden sowohl in wissenschaftlicher Hinsicht als auch in ihrem Praxisbezug höchsten Ansprüchen gerecht.
Behandelt werden etwa Fragen zur Lizenzierung standardessenzieller Patente (SEP) sowie zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).
Ebenfalls enthalten sind die Änderungen aufgrund des Zweiten Gesetzes zur Vereinfachung und Modernisierung des Patentrechts, wie insbesondere die Neuregelung des patentrechtlichen Unterlassungsanspruchs. Zudem werden die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt berücksichtigt.
Zielgruppe
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Aktualisiert: 2023-04-04
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