Für Studierende der Physik in Grund- und Hauptstudium ist das Buch ein Begleittext vor allem für die Vorlesungen und Praktika der elementaren und höheren Experimentalphysik im Bereich der Optik. Neben den wichtigsten theoretischen Grundlagen der Optik werden insbesondere die experimentellen und anwendungsbezogenen Aspekte der Optik dargestellt - elektromagnetische Wellen (Licht-, Laser- und Röntgenstrahlung) als auch Materiewellen/Teilchen (Elektronen, Neutronen, Atome). Für Diplomanden und Doktoranden bietet es zudem eine kompetente Heranführung an die Fachliteratur - zu jedem Kapitel findet sich ein umfassendes Literaturverzeichnis. Das Buch wendet sich auch an Naturwissenschaftler, Ingenieure und Lehrer, die sich mit licht- und teilchenoptischen Problemen befassen und über den aktuellen Stand der Forschung informieren wollen. Durch das ausführliche Register ist das Buch auch als Nachschlagewerk geeignet. Weitere Informationen zum Bergmann/Schaefer finden Sie hier.
Aktualisiert: 2023-05-29
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Für Studierende der Physik in Grund- und Hauptstudium ist das Buch ein Begleittext vor allem für die Vorlesungen und Praktika der elementaren und höheren Experimentalphysik im Bereich der Optik. Neben den wichtigsten theoretischen Grundlagen der Optik werden insbesondere die experimentellen und anwendungsbezogenen Aspekte der Optik dargestellt - elektromagnetische Wellen (Licht-, Laser- und Röntgenstrahlung) als auch Materiewellen/Teilchen (Elektronen, Neutronen, Atome). Für Diplomanden und Doktoranden bietet es zudem eine kompetente Heranführung an die Fachliteratur - zu jedem Kapitel findet sich ein umfassendes Literaturverzeichnis. Das Buch wendet sich auch an Naturwissenschaftler, Ingenieure und Lehrer, die sich mit licht- und teilchenoptischen Problemen befassen und über den aktuellen Stand der Forschung informieren wollen. Durch das ausführliche Register ist das Buch auch als Nachschlagewerk geeignet. Weitere Informationen zum Bergmann/Schaefer finden Sie hier.
Aktualisiert: 2023-05-29
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Rastersondenmikroskopie ist heute eine wichtige analytische Methode in der Oberflächenphysik. Im Rastersondenmikroskop wird eine atomar scharfe Spitze in einem Abstand von wenigen hundert Pikometer über eine Probe geführt und die Wechselwirkung zwischen Spitze und Probe gemessen. Hochauflösende Rasterkraftmikroskopie ist in der Lage subatomare Strukturen abzubilden. In dieser Arbeit wird eine Methode zur Charakterisierung des Bindungszustands der Spitze vorgestellt. Dafür wird die Entwicklung der chemischen Bindungskraft zwischen einem Wolfram-Spitzenatom und einem Kohlenmonoxid-Molekül quantitativ untersucht. Je nach Orientierung der Wolfram-Spitze zeigt sich eine subatomare Winkelabhängigkeit der Bindungskraft. Die Orientierung der Spitze kann verändert werden, um einen Bindungszustand mit einer bestimmten Symmetrie zu erhalten. Mit dieser Methode wird der Einfluss des Bindungszustands auf die Kraftmessung an einer Silizium-Probe untersucht.
Aktualisiert: 2021-03-23
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Aktualisiert: 2023-04-08
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Für Studierende der Physik in Grund- und Hauptstudium ist das Buch ein Begleittext vor allem für die Vorlesungen und Praktika der elementaren und höheren Experimentalphysik im Bereich der Optik. Neben den wichtigsten theoretischen Grundlagen der Optik werden insbesondere die experimentellen und anwendungsbezogenen Aspekte der Optik dargestellt - elektromagnetische Wellen (Licht-, Laser- und Röntgenstrahlung) als auch Materiewellen/Teilchen (Elektronen, Neutronen, Atome). Für Diplomanden und Doktoranden bietet es zudem eine kompetente Heranführung an die Fachliteratur - zu jedem Kapitel findet sich ein umfassendes Literaturverzeichnis. Das Buch wendet sich auch an Naturwissenschaftler, Ingenieure und Lehrer, die sich mit licht- und teilchenoptischen Problemen befassen und über den aktuellen Stand der Forschung informieren wollen. Durch das ausführliche Register ist das Buch auch als Nachschlagewerk geeignet. Weitere Informationen zum Bergmann/Schaefer finden Sie hier.
Aktualisiert: 2023-03-27
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Der Fokus dieser Arbeit liegt auf der Entwicklung einer quasi-monolithischen Nanopositioniervorrichtung für die Anwendung in Hochgeschwindigkeits-Rastersondenmikroskopie-Systemen. Das Konzept der in dieser Arbeit entwickelten neuen Nanopositioniervorrichtung stellt die quasi-monolithische Integration der kinematischen Konstruktion aus monokristallinem Silizium, der piezoelektrischen Aktoren und der piezoresistiven Sensoren dar. Eine monolithische Integration der Piezowiderstände in die Verformungselemente der kinematischen Konstruktion aus Silizium ermöglicht eine Kompensation von möglichen Nichtlinearitäten. Die entwickelte Positioniervorrichtung wurde als Prototyp implementiert und die Funktionsfähigkeit experimentell bestätigt. In einem Rasterkraftmikroskopiesystem wurden Kalibrierung und Probemessungen erfolgreich durchgeführt.
Aktualisiert: 2017-07-03
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Für Studierende der Physik in Grund- und Hauptstudium ist das Buch ein Begleittext vor allem für die Vorlesungen und Praktika der elementaren und höheren Experimentalphysik im Bereich der Optik. Neben den wichtigsten theoretischen Grundlagen der Optik werden insbesondere die experimentellen und anwendungsbezogenen Aspekte der Optik dargestellt - elektromagnetische Wellen (Licht-, Laser- und Röntgenstrahlung) als auch Materiewellen/Teilchen (Elektronen, Neutronen, Atome). Für Diplomanden und Doktoranden bietet es zudem eine kompetente Heranführung an die Fachliteratur - zu jedem Kapitel findet sich ein umfassendes Literaturverzeichnis. Das Buch wendet sich auch an Naturwissenschaftler, Ingenieure und Lehrer, die sich mit licht- und teilchenoptischen Problemen befassen und über den aktuellen Stand der Forschung informieren wollen. Durch das ausführliche Register ist das Buch auch als Nachschlagewerk geeignet. Weitere Informationen zum Bergmann/Schaefer finden Sie hier.
Aktualisiert: 2023-03-27
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In der vorliegenden Arbeit werden metallische Kontakte durch Elektronenstrahllithografie oder Bedampfen durch eine Maske sowie kontrollierte Elektromigration im Ultrahochvakuum hergestellt und mittels Rastersondentechniken charakterisiert. Aus den Rastersondenbildern lassen sich in Verbindung mit den Elektromigrationsdaten Rückschlüsse auf die Entstehung der Morphologie des erzeugten Kontakts ziehen.
Aktualisiert: 2021-02-11
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