Design von GaN Transistoren für leistungselektronische Anwendungen

Design von GaN Transistoren für leistungselektronische Anwendungen von Zhytnytska,  Rimma
GaN-basierte Transistoren werden seit einigen Jahren als vielversprechende Kandidaten für zukünftige leistungselektronische Anwendungen gehandelt. Bei der Entwicklung dieser Bauelemente sollen insbesondere deren Durchbruchfestigkeit, Stromtragfähigkeit und Schaltgeschwindigkeit erhöht werden. Parallel soll die Effizienz immer besser werden. Um dies zu erreichen, müssen sowohl die epitaxische Struktur als auch das Design der Transistorstruktur optimiert werden. Im Rahmen dieser Arbeit wurde eine umfassende systematische Studie der Designparameter eines AlGaN/GaN-HEMTs durchgeführt. Ziel dabei war es, ein Transistordesign zu entwickeln, das für leistungselektronische Anwendungen optimiert ist. Die entsprechenden Maßnahmen gliederten sich in zwei große Bereiche: „Design für hohe Spannung“ und „Design für niedrigen Ron und hohe Stromtragfähigkeit“. Im Rahmen von Voruntersuchungen wurden systematische Erkenntnisse, Optimierungsmaßnahmen und technologische Lösungen erarbeitet, die in ein neues Transistordesign einflossen. Ein entsprechend optimiertes Design für die angestrebte 65 mΩ-Klasse wurde vorgeschlagen: 134 Finger à 1,6 mm Fingerlänge bei einer Gesamtgateweite Wg = 214,4 mm auf einer Fläche von 10,12 mm². Die optimierten Transistoren wurden am FBH mittels p-GaN-Gate Normally-off-Technologie hergestellt. Im on-state wurde gezeigt, dass die Ströme von Ids max ~ 111 A bei einem Ron von ~ 52 mΩ und erreicht werden. Im off-state erreichten die Leistungselektronik-Transistoren die Durchbruchspannung von 700 V bei einem off-state Leckstrom unter 100 μA. Die hier entwickelten Transistoren zeigten sowohl im on- als auch im off-state ein gutes Potential für den Einsatz in leistungselektronischen Anwendungen bis 600 V.
Aktualisiert: 2023-01-01
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Charakterisierung der Schaltverluste diskreter Wide Band Gap Leistungshalbleiter und Entwärmung kompakter Bauteile

Charakterisierung der Schaltverluste diskreter Wide Band Gap Leistungshalbleiter und Entwärmung kompakter Bauteile von Sprunck,  Sebastian
Die Verwendung von Wide Band Gap-Halbleitern stellt Anforderungen an die Verlustmessung und die Entwärmung einer Schaltung, welche mit herkömmlicher Technik nur unzureichend zu erfüllen sind. In dieser Arbeit wird eine Methode entwickelt, die eine Abschätzung des relativen Fehlers der Strommessung im Doppelpulstest ermöglicht. Mit ihr werden anschließend verfügbare Sensoren untersucht und eine neue Variante vorgeschlagen. Außerdem wird eine Entscheidungshilfe erstellt, mit der die Auswahl eines geeigneten Stromsensors vereinfacht wird, sofern für die geplante Anwendung überhaupt eine Option existiert. Weiterhin wird ein Prüfstand entwickelt, mit dem die Wärmeleitfähigkeit thermischer Interface-Materialien präzise bestimmt werden kann. Eine detaillierte Fehlerbetrachtung stellt dabei relative Messfehler in Aussicht, die mit gängigen Standardmethoden nicht erreicht werden können. Abschließend wird untersucht, wie weit sich die Miniaturisierung leistungselektronischer Systeme durch die Anwendung dieser Ergebnisse voran treiben lässt und wo die absehbaren Grenzen liegen.
Aktualisiert: 2023-01-19
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Untersuchungen zu nichtisolierenden bidirektionalen Hochvolt-DCDC-Wandlern mit Leistungsdichten jenseits von 100 kW/dm3 auf Basis von SiC-Bauelementen

Untersuchungen zu nichtisolierenden bidirektionalen Hochvolt-DCDC-Wandlern mit Leistungsdichten jenseits von 100 kW/dm3 auf Basis von SiC-Bauelementen von Kreutzer,  Otto
Der hart schaltende, unisolierende Hochvolt-DCDC-Wandler wird in vielen Systemen der Elektromobilindustrie benötigt. Seine Schaltzelle stellt die Basis für nahezu jede Hochvolt-Leistungselektronik im Kfz wie Antriebsumrichter, Batterieladegeräte und Bordnetzwandler dar. In der vorliegenden Arbeit werden die zentralen Baugruppen in praktischen Aufbauten auf minimale Baugröße und Verlustleistung optimiert und dann modelliert, um die mit aktueller Technologie minimale Baugröße zu eruieren. Das Werk erklärt, wie die verwendeten Siliziumkarbid-(SiC)-Schalter an ihrer technologisch begrenzten Schaltgeschwindigkeit sicher und zuverlässig betrieben werden können und durch die radikal reduzierte Verlustleistung völlig neue Gestaltungsmöglichkeiten in der Leistungselektronik entstehen.
Aktualisiert: 2019-12-27
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